光伏组件非破坏性分析方法-光谱响应测试-光伏科学家大会见

5月25日(三)下午3:00在上海浦东嘉里大酒店IEC60904-8:2014中，说明了组件光谱响应的测量方法，我们可以藉由组件光谱响应的测量，协助解决目前关于降低标准组件不确定度及在可靠性研究中的如何进行非破坏性检测分析等难题。...



一年一度的SNEC第十届(2016)国际光伏工程(上海)展览会暨论坛已經開始，为期三天的SNEC光伏论坛，更是将光伏专家及精英齐聚一堂，从产业视野，目前科技尚无法突破的问题为导向，一起将全世界太阳能光伏发电市场，引领创新发展的道路上。

光伏论坛主要活动有以下主题，“光伏领袖对话”，“光伏科学家大会”，“全球光伏金融峰会”，“光伏产业前沿技术论坛”，“全球光伏市场展望与发展策略论坛”，“专题论坛-分布式光伏在售配电改革中的出路探讨”，“石墨烯在光伏领域应用暨储能技术研讨会”。“光伏科学家大会”为全球光伏专家与科学家提供一个优越平台，以展示与交流太阳能技术最新发展。议程包含光伏技术各个领域，包括硅原料与芯片，晶硅太阳能电池，晶硅光伏组件，薄膜(材料、电池、组件)与光伏创新概念，光伏组件质量保证，光伏系统与智能并网技术。

光焱科技陈震伟博士即将出席光伏科学家大会，并在光伏组件质量保证组中，主讲: 照度校准模式之晶硅组件光谱响应量测。光伏组件测量的不确定度分析及如何对已封装组件或进行老化试验后的组件进行非破坏性的测量，一直是质量部门及可靠性相关专家学者关心的议题；光伏组件依照传统方式测量，需要准备特殊样品(穿透背板)或是毁坏一个光伏组件，让标准组件的校准及可靠性的相关研究进行遇到许多瓶颈。

在最新公布的IEC 60904-8:2014中，透过组件光谱响应的测量来协助突破目前所遇到的难题，其中也说明了组件光谱响应测试系统必须包含三个部分:单色光、待测电池偏光与组件辅助偏光；测量组件之光谱响应必须满足两个条件，待测电池必须处于限流状态，同时电池必须处于短路电流工作条件，由于组件为电池片串接而成，为了达到上述第一个条件，必须采用辅助偏光照射非待测电池部份，让整排电池片处于通路状态，同时单色光与待测片电池偏光所造成的光电流必须小于辅助偏光所产生之光电流，才能使得待测电池处于限流状态。

另外，为由于偏光照射组件会使待测电池处于非短路电池状态下，因此必须施加外部偏压，透过设计自动化I-V曲线量测模块与程序，可精密计算待测电池所需之偏压条件，确保待测电池处于短路电流工作条件，以满足IEC 60904-8:2014之测试要求。

组件光谱响应的测量结果，可以帮助校准实验室降低标准组件的不确定度，以及协助组件制造商生产可靠的光伏组件。

精彩内容欢迎大家在5月25日前往光伏科学家大会(上海浦东嘉里大酒店，浦东大宴会厅5-7)共襄盛举。

SNEC2016: 2016年5月24-26日在中国·上海

2016国际太阳能产业及光伏工程(上海)论坛:2016年5月23-25日

上海浦东嘉里大酒店

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