2016年Vision China完美谢幕,感谢各位观众踊跃的支持,期待明年与您再相聚!

 

VisionChina吸引了全国各地的生产制造企业的工程技术人员、研究机构及高校的专家学者,共同见证了一场机器视觉的饕餮盛宴!其中,光焱科技所研发的MV-IS图像传感器量子效率测试仪获得观众热烈的回响,现场络绎不绝!...



由中国图象图形学会和德国慕尼黑国际博览集团联手打造的【2016上海国际机器视觉展览会暨机器视觉技术与工业应用研讨会 Vision China】,于昨日圆满落幕! 作为国内规模最大、最专业化的国际机器视觉产业盛会,我们很荣幸能亲临现场为您分享最新成像‧机器视觉测试最佳解决方案!



此次Vision China吸引了全国各地的生产制造企业的工程技术人员、研究机构及高校的专家学者,共同见证了一场机器视觉的饕餮盛宴!其中,光焱科技所研发的MV-IS 图像传感器量子效率测试仪获得观众热烈的回响,现场络绎不绝!

现在,透过照片让我们来回顾一下现场!

光焱科技所获得观众热烈的回响,现场络绎不绝!
而光焱科技所推出的产品─MV-IS 图像传感器量子效率测试仪,是使用专利的均匀光技术提供大面积的均匀光斑,比传统积分球提供更强的光强,可以测量相机像素的量子效率以及整个芯片的相机参数。而独家的准直光学技术,提供半角1度的准直光,可以进行变角度CRACROSSTALK测试。利用分光技术,测量的波长范围更可扩展到190 nm-2600 nm,是一高性能的传感器综合测试系统。有关于CCDCMOS图像传感器芯片的测试方案,我们竭诚欢迎您的询问!
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MVIS-PTC 经济型PTC测试系统】


图一、连续可调三色光
图二、大范围的单色光强变化
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【MVIS-QE 全光谱量子效率/光谱响应度测试系统】




光焱科技 MVIS-QE 全波长光谱响应/量子效率测量模块使用独家均光系统,大大的增强量测的便利性与准确性,不但可以轻松的调整光强度,在专利的讯号撷取技术上,无论在弱光或强光,都可以顺利测得芯片或相机准确的量子效率、动探范围以及CRA等关键参数。
图三、全波长测量范围300-1100nm
 
光焱科技首次参与Vision China成功圆满结束,我们期望未来持续推动机器视觉行业向前发展,并不断拓展其国际影响力!我们真诚期待明年再与您相聚!而此平台也会持续为您提供最新相机评价和图像传感器测试技术文档,欢迎您收藏分享,共同讨论一同成长。

如您欲了解更多成像 ‧ 机器视觉量子效率测试技术,请持续关注此平台,或可登录光焱科技官方网站:

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与致电:86-21-31081451

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