【4月18日西安】是德科技 EEsof EDA 技术研讨会——基于 IC-CAP 的器件模型参数提取流程

时间：2017年4月18日 9:30-15:00 x0a地点：是德科技西安办公室x0a地址：西安市碑林区南关正街88号长安国际大厦D座5F...





会议简介

（*由于本次研讨会主要偏重于工程应用，故暂不接受在校学生报名，亦不接受临时报名，敬请谅解。）

IC-CAP 是进行直流和射频半导体器件建模的工业标准。IC-CAP 拥有开放式软件架构，可以提供最高的精度和灵活性，可以生成并自动执行测量，提取和验证程序。IC-CAP 还包含针对工业标准的 CMOS 模型（例如 BSIM3，BSIM4，PSP 以及 HiSIM 等）的成套参数提取解决方案，从而可以最大程度简化操作过程并且提升模型精度。

本次研讨会将会针对 IC-CAP 的这些特点，与大家分享如何在 IC-CAP 中建立自己的模型，以及如何定制一个专属的参数提取优化流程。本次研讨会内容主要分两部分，第一部分重点介绍如何在 IC-CAP 里建立模型。第二部分基于 IC-CAP PEL 语言来展示自动参数提取流程的建立。

谷峰先生是是德科技北京器件建模团队的资深应用工程师，这次活动我们邀请谷峰先生和大家分享使用 IC-CAP 软件进行器件参数提取的流程。以帮助大家更快更好的掌握 IC-CAP 的使用技巧。

本次研讨会活动名额有限，请提早报名。我们为您准备了培训电脑用于课堂操作，数量有限，先到先得，以报名顺序为准。也欢迎自己携带笔记本电脑参加。

时间地点

时间：2017年4月18日 9:30-15:00

地点：是德科技西安办公室

地址：西安市碑林区南关正街88号长安国际大厦D座5F



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活动日程

时间题目

09:15 - 09:30

签到

09:30 - 09:45

Keysight  EEsof EDA 部门简介

09:45 - 10:45

IC-CAP 总体介绍

10:45 - 11:00

休息

11:00 - 12:00

使用 IC-CAP 建立器件模型

12:00 - 13:00

午餐

13:00 - 14:00

PEL 语言简介

14:00 - 15:00

自动参数提取流程的建立

关于是德科技

是德科技（NYSE：KEYS）-原安捷伦电子测量事业部，是全球电子测量技术和市场的领导者，致力于推动无线通信、模块化和软件解决方案的持续创新，专注于为客户提供卓越的测量体验。是德科技提供的电子测量仪器、系统、软件及服务广泛应用于电子设备的设计、研发、制造、安装、部署和运营。如欲了解是德科技的详细信息，请访问 www.keysight.com。



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