功耗测量芯片

芯片功耗性能验证：从困境到超越

如今，人们对电子产品的功耗要求不断提高，因此，半导体公司争相设计低功耗、高能效的产品。为了在紧迫的市场周期内推出更有竞争力的产品，工程师需要快速测量、精准分析并正确处理功耗数据。...

如今，人们对电子产品的功耗要求不断提高，因此，半导体公司争相设计低功耗、高能效的产品。为了在紧迫的市场周期内推出更有竞争力的产品，工程师需要快速测量、精准分析并正确处理功耗数据。传统台式示波器和数字万用表(DMM)等价格过于昂贵，而且很难根据pin脚或产品线进行扩展，而低成本的数据采集解决方案往往精度不足，无法检测到很多像芯片睡眠模式状态下的微小电信号。面对这一进退两难的困境，一些企业选择仅仅对芯片部分功效进行分析，这将导致芯片高功耗、低品质等问题，最终引起市场机会的大量流失。

要突破上述困境，芯片功耗验证解决方案必须满足下列要求：

★ 提供一种经济高效且一致的方式来测量芯片功耗

★ 使工程师能够简易地进行测试数据采集、可视化和分析

★ 为设计工程师和潜在客户提供准确且相关的反馈

NI芯片功耗和性能验证解决方案

NI芯片功耗和性能验证解决方案具有高准确度和高通道数，有助于加快产品上市时间，您可以使用专用仪器和基于配置的软件来快速设置、测量、记录和可视化功耗测量数据。

NI解决方案采用的组件如下：

★ 使用基于PXI平台的专用高精度、高分辨率仪器，执行基于分流电阻的功耗测量。

★ 自定义测量参数，以优化采样率、分辨率和通道数。

★ 使用FlexLogger™测量软件，无需编程即可配置和执行同步的功率测量。

★ 使用DIAdem数据分析软件，快速定位、检查、分析和报告测量数据。