你又因为pcba失效问题跟人扯皮了?
你又因为pcba失效问题跟人扯皮了?...
随着电子产品的高密度化及电子制造的无铅化,PCBA产品的技术水平、质量要求也面临严峻的挑战,PCBA的设计与生产加工及组装过程中需要更严格的工艺与原材料的控制。目前由于尚处于技术和工艺的转型期,客户对PCBA制程及组装的认识尚有较大差异,于是类似漏电、开路(线路、孔)、焊接不良、爆板分层之类的失效常常发生,常引起供应商与用户间的质量责任纠纷,为此导致了严重的经济损失。通过对PCBA的失效现象进行失效分析,通过一系列分析验证,找出失效原因,挖掘失效机理,对提高产品质量,改进生产工艺,仲裁失效事故有重要意义。
案例
焊接不良失效分析
1. 案例背景
X公司出现了一批某型号的手机,品质部门反馈手机软板上SMT元件焊接后易脱落,不良率约为3.3%,PCBA焊盘上的断裂面在电子显微镜下观察,表现为平整的断裂面。
2.分析方法简述
A.样品外观照片:
B.确定了试验方案后我们针对失效样品做了如下的分析:
备注:AuSn4是一种很脆的金属间化合物,是引起“金脆”现象的主要原因﹐对焊点强度影响较大。
C.找到导致焊点易脱落的失效机理后,与该公司工艺人员沟通后,得知其焊接时的TOL长达70s,但由于该款产品即小又薄,且零部件布局密度也较低。这样过长的TOL时间导致焊点IMC结构粗大、松散,富P层过厚并形成了Ni-Sn-P层。
3. 分析与讨论
由以上分析结果可以导致焊点易脱落的原因是多方面因素造成的,总结如下:
a). 失效元件的焊点形成了大结构的(Ni,Cu)3Sn4IMC,过多的易脆的IMC的生成会导致焊接强度偏低,在受到应力时焊点容易在IMC于PAD上的富P层之间开裂。
b). 同时焊点的富P层也很厚,富P层内由于Ni扩散而形成的裂缝会降低焊点的强度。
c). 焊点焊接界面附近残留的AuSn4合金(可能是PCBA PAD金层过厚或焊点锡量过少不利Au的熔融导致),这种合金可能会引起“金脆”,对焊点强度也有一定影响。
d). 焊点在富P层与(Ni,Cu)3Sn4 IMC间形成了对焊接强度危害极大的Ni-Sn-P合金,焊点的断裂主要发生在Ni-Sn-P层附近。
4.结论
减少回流时间到45s~55s,以抑制Ni-Sn-P层的形成,减少焊点IMC、富P层厚度。改善PCBA表面处理制程,杜绝“黑镍”现象发生。减薄PCBA PAD金层厚度或增加焊点锡量以防止“金脆”发生。
备注:回流时间越长会生成越多的Ni-Sn-P合金。
一
pcba失效分析
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内容
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针对pcba中常见的失效,经常采用的分析技术及设备
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典型案例分析全过程分享(背景、思路、方案、设备、过程数据、分析过程、分析结论、改善建议、改善效果)
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学员可自带pcba领域的失效问题,与授课老师就具体问题自由交流
二
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讲师
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深入阐述电子元器件常见失效机理
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黎晓华
报告题目:pcba失效分析
现任深圳大学材料学院实验中心主任,高级工程师
中国机械工程学会失效分析分会特聘失效分析高级工程师
中国电子显微镜学会会员
中国标准化微束分析专业委员会电镜及电子探针专业委员会委员
中国兵器工业武器失效分析高级工程师
完成多项国防军工产品事故分析,参与多项国军标编写工作,解决重点型号产品技术攻关难题。曾评为西北兵器工业十大杰出青年,曾任兵器工业西北理化检测中心主任
毕业于哈尔滨工业大学
美信检测首席IC故障分析专家
具有10年的规模集成电路分析经验,先后在多家跨国公司从事与IC设计、分析相关的工作,尤其擅长芯片功能失效的定位、激发方法的设计、可靠性评价体系的建立,对各种失效模式和机理有其独特的见解
(单节课程培训时间为1天)
Pcba失效分析 2016.12.22 8:30-12:15 13:30-17:30
电子元器件失效分析2016.12.23 8:30-12:15 13:30-17:30
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后续失效分析课程预告
三
金属结构件失效分析
课程
内容
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美信检测金属失效分析专家
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典型案例分析全过程分享(背景、思路、方案、设备、过程数据、分析过程、分析结论、改善建议、改善效果)
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四
塑胶结构件失效分析
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塑胶材料常见失效机理
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涂层失效分析
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失效分析作用、思路、程序
深圳大学失效分析专家
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涂层常见失效机理
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六
紧固件失效分析
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七
粘接失效分析
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内容
讲师
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失效分析理论
失效分析作用、思路、程序
华测检测失效分析专家
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典型案例分析全过程分享(背景、思路、方案、设备、过程数据、分析过程、分析结论、改善建议、改善效果)
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粘接失效分析交流讨论
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